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[单选] CSK-IB试块将IIW试块的Φ50孔改为Φ40、Φ44、Φ50台阶孔,其目的是()

A . A、测定斜探头K值
B . B、测定直探头盲区范围
C . C、测定斜探头分辨力
D . D、以上全是

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