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无损检测技术资格人员考试题库 / 初级无损检测技术资格题库

[单选] 由N=D²/4λ可知晶片尺寸增加，近场区长度迅速增加，（）。

A . 对探伤有利
B . 对探伤不利
C . 半扩散角增大
D . 超声波能量发散

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初级无损检测技术资格题库

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