A . A.可用来测定磁粉探伤系统的综合性能和磁粉性能;B . B.零件磁化后贴置在磁化范围内;C . C.须将无槽的一面贴向探伤面;D . D.可以了解探伤面上的磁场方向和大小;E . E.A和D
暂无解析
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