半导体应变片在测量某一构件的应变时，引起其电阻相对变化的原因为()。 - 查题网

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正确率：100%

半导体应变片在测量某一构件的应变时，引起其电阻相对变化的原因为()。

A、应变片几何尺寸的变化

B、半导体材料的弹性模量的变化

C、半导体电阻率的变化

D、半导体材料压阻系数的变化

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机械工程测试技术基础

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